什么是超级电容器的跌落实验?
手机、平板等移动电子产品在进行批量生产前,超级电容器、电池、被动元器件在批量使用前都要历经千锤百炼,进行各种可靠性测试。而可靠性测试又分为环境测试,机械测试,寿命测试等。跌落试验可以对电子产品或者电子元器件进行部分可靠性功能测试。
超级电容器跌落的方式
跌落分定向跌落、自由跌落、微跌落(也叫重复跌落、短跌落)、滚筒跌落四种跌落方式。
超级电容器跌落测试目的
用来模拟产品在搬运期间或使用过程中可能经受的跌落。考察产品抗意外冲击的能力。从而根据产品实际情况及国家标准范围内进行改进、完善包装设计。
超级电容器跌落测试介绍
1、微跌落
微跌落试验应用的领域
微跌落试验机适用于贴片超级电容器、手机、电话机听筒、对讲机、U盘、IP3、CD、电子词典等小型电子消费类产品的能够满足样品棱、角、面的跌落测试,可实现自动手动功能。
微跌落试验适用标准
YD/T 1539-2006 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法
2、滚筒跌落
滚筒跌落试验应用范围
滚筒跌落试验适用于扣式超级电容器、手机、移动电话、PDA、电子辞典、CD、P3等各种小型轻量之可换式电子产品以及连接器、通控器等进行连续回转(落下)跌落试验,至规定次数到达后,调查所造成损坏状况。
滚筒试验参考标准
滚简测试设备满足国标GB/T 2423. 8-19995或IEC 60068-32, Ed2测试条件: 滚简制作工艺满足GB/T2423.8195附录5标准。
3、受控跌落
受控跌落试验设备可以对超级电容器、锂离子超级电容器、手机、平板等微小电子产品进行定向自由跌落,以验证移动电子产品部分可靠性功能测试
受控跌落测试原理
受控跌落是指样品不包装、装上所配套的电池,不开机,固定在一定的角度下, 放置在(1. 0±0.01)m处自由跌落在大理石表面上,以试验产品的耐冲击性。试验中自动计算加速度,在显示屏中显示。
相关标准的要求:除允许表面有擦伤、小凹坑外、功能、外观及装配应符合要求。
受控跌落测试标准:满足YD/T 1539-2006标准
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