之前我们说过，轴向薄膜电容的绝缘电阻与测试的时间的关系是轴向薄膜电容器的充电电流随时间的增加而不断减小的，经过一段时间后，这个数值才会稳定下来，这个稳定下来的数值即漏电流（IL）。不过电容器的绝缘电阻与漏电流的关系并不是成线性关系。

  那么轴向薄膜电容的绝缘电阻有哪些因素有关呢？今天我们来说一下电容的绝缘电阻与温度的关系。

  研究表明，轴向薄膜电容器的绝缘电阻与温度的关系基本上与体积电阻与温度的关系是一致的，测试电容器的绝缘电阻的温度一般在15~25℃之间。绝缘电阻会随着温度的不断升高而减小。想了解更多详情，请拨打免费热线电话：400-6299-138。

  不过我们之前没有说过什么叫做体积电阻，为了不留下疑惑，这里简单的说明一下什么叫做体积电阻。
  所谓轴向薄膜电容器的体积电阻是指一立方厘米的电介质对漏电电流的电阻，它的单位是欧姆·厘米。轴向薄膜电容器的电阻值是表示其使用的电介质或绝缘材料的电性能的一个重要参数。轴向薄膜电容器的体积电阻越大，那么电容器所使用的电介质的绝缘性能越好；也就是说，轴向薄膜电容的体积电阻越大，其绝缘电阻越大。